एसझेड-४५ स्टिरिओ मायक्रोस्कोप

अलिकडच्या वर्षांत, धातुशास्त्र, यंत्रसामग्री, पेट्रोकेमिकल, विद्युत ऊर्जा, अणुऊर्जा आणि एरोस्पेस यांसारख्या आधुनिक तंत्रज्ञानाच्या जलद विकासामुळे, उत्पादनाच्या वेल्डिंगच्या स्थिरतेसाठीच्या आवश्यकता अधिकाधिक वाढल्या आहेत आणि वेल्डिंग पेनिट्रेशन हे वेल्डिंगच्या यांत्रिक गुणधर्म, खुणा आणि बाह्य कामगिरीसाठी महत्त्वाचे आहे. त्यामुळे, वेल्डिंग पेनिट्रेशनचे प्रभावी निरीक्षण करणे हे वेल्डिंगच्या परिणामाची चाचणी करण्याचे एक महत्त्वाचे साधन बनले आहे. पेनिट्रेशन स्टीरिओ मायक्रोस्कोप परदेशी प्रगत तंत्रज्ञानाचा वापर करतो, जो विशेषतः ऑटो पार्ट्स निर्मिती क्षेत्रातील वेल्डिंगच्या कठोर आवश्यकतांसाठी योग्य आहे. याच्या साहाय्याने बट जॉइंट, कॉर्नर जॉइंट, लॅप जॉइंट, टी-जॉइंट इत्यादी विविध वेल्डेड जॉइंट्सच्या पेनिट्रेशनचे छायाचित्रण, संपादन, मोजमाप, जतन आणि मुद्रण करता येते.

तांत्रिक मापदंड:

सूक्ष्मदर्शक:
१. नेत्रिका: १०X, दृश्यक्षेत्र φ२२मिमी
२. ऑब्जेक्टिव्ह लेन्सची सतत झूम श्रेणी: ०.८X-५X
३. नेत्रिकेचे दृश्यक्षेत्र: φ५७.२-φ१३.३ मिमी
४. कार्यरत अंतर: १८० मिमी
५. दोन्ही डोळ्यांमधील अंतर समायोजित करण्याची श्रेणी: ५५-७५ मिमी
६. मोबाईल वर्किंग डिस्टन्स: ९५ मिमी
७. एकूण आवर्धन: ७—३६०X (उदाहरण म्हणून १७-इंची डिस्प्ले, २X मोठी ऑब्जेक्टिव्ह लेन्स घ्या)
८. तुम्ही टीव्ही किंवा संगणकावर प्रत्यक्ष प्रतिमा पाहू शकता.

मापन भाग:
ही सॉफ्टवेअर प्रणाली शक्तिशाली आहे: ती सर्व चित्रांचे भौमितिक परिमाण (बिंदू, रेषा, वर्तुळे, कंस आणि प्रत्येक घटकामधील परस्परसंबंध) मोजू शकते, मोजलेला डेटा चित्रांवर आपोआप चिन्हांकित केला जाऊ शकतो आणि प्रमाण प्रदर्शित केले जाऊ शकते.

१. सॉफ्टवेअर मापनाची अचूकता: ०.००१ मिमी

२. आलेखीय मापन: बिंदू, रेषा, आयत, वर्तुळ, लंबवर्तुळ, कंस, बहुभुज.

3. आलेखीय संबंधांचे मापन: दोन बिंदूंमधील अंतर, एका बिंदूपासून सरळ रेषेपर्यंतचे अंतर, दोन रेषांमधील कोन आणि दोन वर्तुळांमधील संबंध.

४. घटक संरचना: मध्यबिंदू संरचना, केंद्रबिंदू संरचना, छेदनबिंदू संरचना, लंब संरचना, बाह्य स्पर्शिका संरचना, आंतरिक स्पर्शिका संरचना, जीवा संरचना.

५. ग्राफिक प्रीसेट: बिंदू, रेषा, आयत, वर्तुळ, लंबवर्तुळ, कंस.

६. प्रतिमा प्रक्रिया: प्रतिमा कॅप्चर करणे, प्रतिमा फाईल उघडणे, प्रतिमा फाईल जतन करणे, प्रतिमा प्रिंट करणे